近年来，集成电路技术得到了快速发展，特征尺寸不断缩小，集成度和性能不断提高。为了减小成本，提升性能，集成电路技术中引入大量新材料、新工艺和新的器件结构。这些发展给集成电路可靠性的保证和提高带来了巨大的挑战。

可靠性定义中“规定的时间”即常说的“寿命”。根据国际通用标准，常用电子产品的寿命必须大于10年。显然，我们不可能将一个产品放在正常条件下运行10年再来判断这个产品是否有可靠性问题。因此我们常常把样品放在高电压、大电流、高湿度、高温、较大气压等条件下进行测试，然后根据样品的失效机理和模型来推算产品在正常条件下的寿命。

可靠性是对产品耐久力的测量，我们主要典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线来表示。

集成电路的失效原因大致分为三个阶段：

第一阶段被称为早期失效期, 这个阶段产品的失效率快速下降，造成失效的原因在于IC设计和生产过程中的缺陷；

第二阶段被称为偶然失效期, 这个阶段产品的失效率保持稳定，失效的原因往往是随机的，比如温度变化等等；

第三阶段被称为损耗失效期，这个阶段产品的失效率会快速升高，失效的原因就是产品的长期使用所造成的老化等。

高/低温操作生命期试验

目的：

评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力

测试条件:

125℃，1.1VCC,动态测试

失效机制：

电子迁移，氧化层破裂，相互扩散，不稳定性，离子玷污等

测试条件：

125℃条件下1000小时测试通过IC可以保证持续使用4年，2000小时测试持续使用8年；

150℃条件下 1000小时测试通过保证使用8年，2000小时保证使用28年；

参考标准：

MIT-STD-883EMethod 1005.8

JESD22-A108-A

EIAJED-4701-D101

针对以上测试条件，在选择高低温试验箱方面很多工程师朋友一定会有很多问题吧

选择什么品牌的高低温试验箱来进行可靠试验呢？

品牌的性价比高不高？

高低温试验箱的温度的精确吗？均匀性和波动度怎么样？

长时间运行稳定吗？1000小时的试验可不能中断啊

长期运行是否节能？会不会很费电呢？

售后服务怎么样？有没有保障？响应时间快不快？

小编向您推荐华测仪器品牌的高低温试验箱。